ブックタイトル日本結晶学会誌Vol61No4

概要

日本結晶学会誌Vol61No4

石川亮，柴田直哉，幾原雄一では内側に向かう電場が相対的に増大されるため，カチオンを閉じ込めることが可能である．また，グラフェン端にはダングリングボンドが形成されており，化学的にも活性の高い状態が実現されていると考えられる．したがって，グラフェンホールはナノサイズの活性な反応場であることが，原子スケールでの電場構造解析から示唆される．4．おわりに従来の原子分解能STEM法では原子位置を中心とする構造解析が主に行われ，多くの材料における問題を明らかにしてきた．原子スケールでの局所構造は物性の理解にきわめて重要であるが，さらに一歩踏み込んだ電場構造は物性理解に向けてより深い議論の可能性を秘めている．DPC-STEM法では電場が直接得られるが，積分を経て静電ポテンシャルが，発散から電荷密度分布が得られる．これらのうち，どの観察法が最適であるかは多くの議論の余地が残されており，今後の発展が期待される．謝辞本稿で紹介した研究は，日本学術振興会の科学研究費（17H01316, 17K18974, JP17H06094），JST先端計測，ナノテクノロジープラットフォーム事業（12024046）による助成のもと遂行されました．また，S.D. Findlay博士（モナッシュ大学），関岳人博士，G. Sanchez-Santolino博士（東京大学），河野祐二氏（日本電子）との共同研究として行った結果です．ここに感謝を申し上げます．文献1）R. Ishikawa, N. Shibata, F. Oba, T. Taniguchi, S. D. Findlay, I.Tanaka and Y. Ikuhara: Phys. Rev. Lett. 110, 065504（2013）.2）N. Shibata, T. Seki, G. S. Santolino, S. D. Findlay, Y. Kohno, T.Matsumoto, R. Ishikawa and Y. Ikuhara: Nat. Commun. 8, 15631（2017）.3）N. Shibata, S. D. Findlay, Y. Kohno, H. Sawada, Y. Kondo and Y.Ikuhara: Nat. Phys. 8, 611（2012）.4）R. Ishikawa, S. D. Findlay, T. Seki, G. Sanchez-Santolino, Y.Kohno, Y. Ikuhara and N. Shibata: Nat. Commun. 9, 3878（2018）.5）S. Morishita, R. Ishikawa, Y. Kohno, H. Sawada, N. Shibata and Y.Ikuhara: Microscopy 67, 46（2018）.6）S. J. Pennycook and L. A. Boatner: Nature 336, 565（1988）.7）R. Ishikawa, A. R. Lupini, S. D. Findlay, T. Taniguchi and S. J.Pennycook: Nano Lett. 14, 1903（2014）.8）R. Ishikawa, R. Mishra, A. R. Lupini, S. D. Findlay, T. Taniguchi, S. T.Pantelides and S. J. Pennycook: Phys. Rev. Lett. 113, 155501（2014）.9）S. D. Findlay, T. Saito, N. Shibata, Y. Sato, J. Matsuda, K. Asano, E.Akiba, T. Hirayama and Y. Ikuhara: Appl. Phys. Exp. 3, 116603（2010）.10）R. Ishikawa, E. Okunishi, H. Sawada, Y. Kondo, F. Hosokawa andE. Abe: Nat. Mater. 10, 278（2011）.11）S. D. Findlay, R. Huang, R. Ishikawa, N. Shibata and Y. Ikuhara:Microscopy 66, 3（2017）.12）N. Shibata, Y. Kohno, S. D. Findlay, H. Sawada, Y. Kondo and Y.Ikuhara: J. Electro. Microsc. 59, 473（2010）.13）T. Matsumoto, Y. -G. So, Y. Kohno, H. Sawada, Y. Ikuhara and N.Shibata: Sci. Adv. 2, e1501280（2016）.14）N. Shibata, S. D. Findlay, H. Sasaki, T. Matsumoto, H. Sawada,Y. Kohno, S. Otomo, R. Minato and Y. Ikuhara: Sci. Rep. 5, 10040（2015）.15）R. Close, Z. Chen, N. Shibata and S. D. Findlay: Ultramicroscopy159, 124（2015）.16）K. Muller, F. F. Krause, A. Beche, M. Schowalter, V. Galioit, S.Loffler, J. Verbeeck, J. Zweck, P. Schattschneider and A. Rosenauer:Nat. Commun. 5, 5653（2014）.17）G. Sanchez-Santolino, N. R. Lugg, T. Seki, R. Ishikawa, S. D.Findlay, Y. Kohno, Y. Kanitani, S. Tanaka, S. Tomiya, Y. Ikuharaand N. Shibata: ACS Nano 12, 8875（2018）.18）L. Pauling:“The Nature of the Chemical Bond”, Cornell UniversityPress, New York（1960）.19）R. Ishikawa, A. R. Lupini, S. D. Findlay and S. J. Pennycook:Microsco. Microanal. 20, 99（2014）.20）R. P. Feynman: Phys. Rev. 56, 340（1939）.21）K. Nakada and A. Ishii: Solid State Commun. 151, 13（2011）.22）Q. M. Ramasse, C. R. Seabourne, D. -M. Kepaptsoglou, R. Zan, U.Bangert and A. J. Scott: Nano Lett. 13, 4989（2013）.23）W. Zhou, M. D. Kapetanakis, M. P. Prange, S. T. Pantelides, S. J.Pennycook and J. -C. Idrobo: Phys. Rev. Lett. 109, 206803（2012）.24）A. J. Stone and D. J. Wales: Chem. Phys. Lett. 128, 501（1986）.25）R. Ishikawa, N. R. Lugg, K. Inoue, H. Sawada, T. Taniguchi, N.Shibata and Y. Ikuhara: Sci. Rep. 6, 21273（2016）.プロフィール石川亮Ryo ISHIKAWA東京大学工学系研究科総合研究機構Institute of Engineering Innovation, University of Tokyo〒113-8656東京都文京区弥生2-11-162-11-16 Yayoi, Bunkyo, Tokyo 113-8656, Japane-mail: ishikawa@sigma.t.u-tokyo.ac.jp最終学歴：東京大学，博士（工学）．専門分野：材料科学，電子顕微鏡現在の研究テーマ：三次元での原子構造解析柴田直哉Naoya SHIBATA東京大学工学系研究科総合研究機構Institute of Engineering Innovation, University of Tokyo〒113-8656東京都文京区弥生2-11-162-11-16 Yayoi, Bunkyo, Tokyo 113-8656, Japane-mail: shibata@sigma.t.u-tokyo.ac.jp最終学歴：東京大学，博士（工学）．専門分野：電子顕微鏡材料学現在の研究テーマ：新規原子分解能STEM法の開発と材料応用幾原雄一Yuichi IKUHARA東京大学工学系研究科総合研究機構Institute of Engineering Innovation, University of Tokyo〒113-8656東京都文京区弥生2-11-162-11-16 Yayoi, Bunkyo, Tokyo 113-8656, Japane-mail: ikuhara@sigma.t.u-tokyo.ac.jp最終学歴：九州大学，工学博士．専門分野：結晶界面工学，電子顕微鏡現在の研究テーマ：粒界・界面構造解析と機能特性など236日本結晶学会誌第61巻第4号（2019）