ブックタイトル日本結晶学会誌Vol60No4

概要

日本結晶学会誌Vol60No4

葛西裕人，明石哲也，太田慶新，原田研Germany（1999）．3）H. Takasaki: Appl. Opt. 9, 1457（1970）．4）J. H. Bruning et al.: Appl. Opt. 13, 2693（1974）．5）M. Takeda, H. Ina and S. Kobayashi: J. Soc. Opt. Am. 72, 156（1982）．6）M. Takeda and K. Muto: Appl. Opt. 22, 3977（1983）．7）M. Takeda and Q. S. Ru: Appl. Opt. 24, 3068（1985）．8）T. Yatagai and T. Kanou: Opt. Eng. 23, 357（1984）．9）T. Yatagai et al.: Appl. Opt. 26, 377（1987）．10）K. Harada, H. Endoh and R. Shimizu: J. Electron Microsc. 37, 199（1988）．11）S. Hasegawa et al.: J. Appl. Phys. 65, 2000（1989）．12）K. Harada, H. Endoh and R. Shimizu: J. Electron Microsc. 39, 470（1990）．13）G. Lai and T. Yatagai: J. Opt. Soc. Am. A8, 822（1991）．14）Q. Ru et al.: App. Phys. Lett., 59, 2372（1991）．15）K. Yamamoto et al.: J. Electron Microsc. 49, 31（2000）．16）Q. Ru et al.: Optik 92, 51（1992）．17）遠藤潤二，外村彰：電子顕微鏡30, 113（1995）．18）原田研，菅原昭，米山明男：日本顕微鏡学会第67回学術講演会要旨集, p.104（2011）．19）K. Harada et al.: App. Phys. Lett. 84, 3229（2004）．20）T. Suzuki et al.: Ultramicroscopy 118, 21（2012）．21）原田研，明石哲也，松井功：特許公報第5382695号（2013）．22）原田研，菅原昭，守谷騰：特許公報第5420678号（2013）．23）G. Lai et al.: J. Appl. Phys. 76, 39（1994）．24）Q. Ru et al.: Ultramicroscopy 55, 209（1994）．25）Q. Ru et al.: Jpn. J. Appl. Phys. 31, 1919（1992）．26）Y. Suzuki, A. Takeuchi and K. Harada: Jpn. J. Appl. Phys. 49,016601（2010）．27）T. Kawasaki et al.: Appl. Phys. Lett. 76, 1342（2000）.28）D. Lei et al.: Jpn. J. Appl. Phys. 53, 02BC23（2014）.29）http://www.microphase.jp/j_product0904.html30）H. D. Chopra and M. Wuttig: Nature 521, 340（2015）．31）T. Ikuta: Appl. Opt. 24, 2907（1985）．32）T. Kawasaki et al.: Ultramicroscopy 90, 47（2001）．33）K. Ishizuka and B. Allman: J. Electron Microsc. 54, 191（2005）．34）J. Miao et al.: Nature, 400, 342（1999）．35）N. Chapman et al.: Ultramicroscopy 3, 203（1978）．36）M. J. Hytch et al.: Nature 453, 1086（2008）．プロフィール葛西裕人Hiroto KASAI㈱日立製作所研究開発グループ基礎研究センタResearch and Development Group, Hitachi, Ltd.〒350-0395埼玉県比企郡鳩山町赤沼2520e-mail: hiroto.kasai.qm@hitachi.com電子顕微鏡，特に電子線ホログラフィー応用に関する業務に従事．現在は文部科学省先端研究基盤共用促進事業共用プラットフォーム形成支援プログラム“アトミックスケール電磁場解析プラットフォーム”（https://www9.hitachi.co.jp/atomicscale_pf/）の担当者として事業を推進中．明石哲也Tetsuya AKASHI㈱日立製作所研究開発グループ基礎研究センタResearch and Development Group, Hitachi, Ltd.〒350-0395埼玉県比企郡鳩山町赤沼2520e-mail: tetsuya.akashi.sq@hitachi.com九州大学Kyushu University電子顕微鏡，特に超高圧電子顕微鏡の開発に関する業務に従事．主に，電子顕微鏡の性能向上や評価手法に関する研究を担当．太田慶新Keishin OTA㈱マイクロフェーズMicrophase Co. Ltd.〒300-2651茨城県つくば市鬼ヶ窪1147-9e-mail: ota@microphase.co.jpナノ材料・新規材料のCVD合成に関する基礎研究および応用開発に従事．光干渉，電子線干渉を用いたナノ計測技術の実用化開発と解析ソフトウェアの構築にも携わる．原田研Ken HARADA理化学研究所創発物性科学研究センターCEMS, RIKEN〒350-0395埼玉県比企郡鳩山町赤沼2520日立基礎研究センタ内e-mail: kharada@riken.jp日立基礎研究所にて超伝導磁束量子の観察研究に従事の後，2015年より現職．電子線を用いた物理学，電子波干渉技術の開発研究に従事．176日本結晶学会誌第60巻第4号（2018）