日本結晶学会誌

Journal of the Crystallographic Society of Japan


Volume 54 (1), 2012.
-目次-
特 集 X線トポグラフィの進展
「X線トポグラフィの進展」発刊によせて 松畑洋文, 後藤義人 1
放射光X線トポグラフィの進展 川戸清爾 2 Abstract
X線トポグラフィの三次元化と応用 梶原堅太郎, 飯田 敏, 向出大平, 川戸清爾 12 Abstract
平行ビームを使ったX線トポグラフィによるSiCの転位観察 山口博隆, 松畑洋文 18 Abstract
微小角入射X線トポグラフィによる半導体薄膜の結晶評価 水野 薫, 岡本博之 24 Abstract
タンパク質結晶のX線トポグラフ 小島謙一, 橘 勝 29 Abstract
X線蜃気楼回折とその干渉縞 深町共榮, 川村隆明 37 Abstract
放射光X線トポグラフィによる極薄ひずみSi層の結晶性評価 志村考功, 細井卓治, 渡部平司 47 Abstract
エピタキシャルダイヤモンド薄膜のトポグラフィによる観察 加藤有香子, 梅沢 仁 54 Abstract
クリスタリット
高木方程式, 表面音響波デバイス 川戸清爾 59
トポ−トモグラフィ, ステップスキャニングセクショントポグラフィ 梶原堅太郎 59
(+, −)配置 山口博隆 59
トップアップ運転, 不整合転位 水野 薫 60
運動学的像, デジタルトポグラフィ 小島謙一 60
動力学回折理論, ブラッグケース, ラウエケース 深町共榮 60
ひずみSiウェーハ, 広領域X線トポグラフィ,ロッキングカーブX線トポグラフィ 志村考功 61
ダイヤモンドの分類法, Huangの性能指数 加藤有香子 61
役員一覧 62
カレンダー 63 Calendar
掲示板 63 BB