日本結晶学会誌

Journal of the Crystallographic Society of Japan


Volume 47 (1), 2005.
-目次-
巻頭言
回顧と展望 大隅一政 1
特集−電子線で今何ができるか
特集「電子線で今何ができるか」にあたって 寺内正己, 市野瀬英喜, 津田健治, 木本浩司 2
1.電子線結晶構造解析の最先端
高分解能電子顕微鏡法による界面構造解析 市野瀬英喜, 沢田英敬, 宅間絵理子 3 Abstract
HAADF-STEM法による高分解能Zコントラスト像観察 齋藤 晃 9 Abstract
高分解能HAADF-STEMの結像理論 渡辺和人 15 Abstract
球面収差補正による高分解能電子顕微鏡法の分解能向上 田中信夫 20 Abstract
Sub-Å電子ビームによる高分解能STEM 阿部英司, Stephen J. Pennycook 26 Abstract
実時間焦点位置変調法による位相再構成と分解能向上 高井義造, 川c忠寛, 木村吉秀, 生田 孝 32 Abstract
位相差電子顕微鏡の主題と変奏 永山國昭 38 Abstract
電子回折法による膜タンパク質の二次元結晶構造解析 光岡 薫 44 Abstract
収束電子回折法による結晶構造・電子密度分布の精密化 津田健治 50 Abstract
チャンネリングを用いたサイト選択解析:ALCHEMI 松村 晶, 島田幹夫 55 Abstract
TEM-EXELFS法の特徴とその応用の現状と展望 武藤俊介 61 Abstract
2.電子線物性解析手法の最先端
TEM-EELSによる電子状態分析 木本浩司 67 Abstract
ELNESの理論解析 溝口照康, 田中 功 73 Abstract
TEM-XES法による電子状態解析 寺内正己 79 Abstract
ローレンツ電子顕微鏡法による強相関系磁性材料の磁区構造観察 浅香 透, 于 秀珍, 木本浩司, 松井良夫 83 Abstract
電子線ホログラフィーによる局所磁化分布のイメージング 村上恭和, 進藤大輔 89 Abstract
電子線ホログラフィーによる結晶内部電位の測定 平山 司 95 Abstract
クリスタリット
Zコントラスト像 齋藤 晃 99
環状暗視野走査型透過電子顕微鏡法, 球面収差補正 阿部英司 99
クライオ電子顕微鏡, フリーデル,マージ,フリーR因子, RMSD 光岡 薫 99
透過電子顕微鏡法における電子エネルギー損失分光法, 走査透過電子顕微鏡法における電子エネルギー損失分光法, エネルギーフィルター電子顕微鏡法 木本浩司 100
第一原理バンド計算, 平面波基底擬ポテンシャル法 溝口照康 100
電子線バイプリズム, 内部ポテンシャル 村上恭和 101
集束イオンビーム 平山 司 101
役員一覧 102
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