日 本 結 晶 学 会 誌

Journal of the Crystallographic Society of Japan


Volume 44 (6), 2002
目次
入門講座 電子顕微鏡入門講座(中級編)
透過電子顕微鏡の先進機能をもっと活用しよう
 5. EELSを用いた電子状態解析 寺内 正己 347 Abstract
 6. TEM-EELSによる微小領域の分析 木本 浩司 355 Abstract
総合報告
放射光X線による磁気回折の研究 =偏光と磁気と回折= 伊藤 正久 365 Abstract
最近の研究から
グルタミルtRNA合成酵素・tRNAGlu複合体の結晶構造が示すアンチコドン認識のメカニズム 関根 俊一 375 Abstract
実験室
RIETAN徹底活用ガイド(3) 電子・原子核密度分布の三次元可視化 泉 富士夫 380 Abstract
蛋白質構造解析コンソーシアムの創薬産業ビームライン 西島 和三, 勝矢 良雄 389 Abstract
ソフトウェア
粉末X線回折データからモンテカルロ法により結晶構造を導くプログラム 三浦 裕行 392 Abstract
談話室
X-TOP2002と加藤範夫先生追悼記念講演(Authier名誉教授) 近浦 吉則 396
特集「IUCr 2002(ジュネーブ)を振り返る」(続) 399
ハーバード大学珍?!留学記(後編) 矢野(藤原)陽子 400
クリスタリット
等色性と色消し 木本 浩司 404
X線磁気散乱 伊藤 正久 404
エネルギー分解能、サジタル曲率半径 勝矢 良雄 404
モンテカルロ法、粉末X線構造解析、最適モデル構造の決定 三浦 裕行 405
カレンダー 406 Calender
会 告 407 Announce

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