ブックタイトル日本結晶学会誌Vol59No5

概要

日本結晶学会誌Vol59No5

クリスタリット走査透過電子顕微鏡法におけるエネルギー分散型X線分光法（STEM-EDS）Scanning Transmission Electron Microscopy -Energy Dispersive X-ray SpectroscopySTEM-EDSとは走査透過電子顕微鏡（STEM）において電子プローブを試料上で走査する際に，試料から発生した特性X線をエネルギースペクトルとして収集し，各走査点とスペクトルを対応させることで元素ごとの空間分布（元素マップ）を得ることができる手法である．元素マップの空間分解能は，STEMの電子線プローブの大きさに依存する．電子線プローブを原子レベルまで細く絞ることが可能な収差補正型STEMでは，原子スケールの元素マップを取得することが可能である．また，通常のSTEM観察に適した試料厚みであれば，X線の吸収や制動放射の寄与でスペクトルの形状（ピークの裾やプラトーなど）はほとんど変化しない．したがって，あらかじめ取得しておいた元素のX線ピークを参照することでピークの重なったEDSスペクトルから波形分離を行うことが可能であり，未知の含有元素の検出や複数の元素の識別にも有効な手段である．（東京大学大学院工学系研究科総合研究機構熊本明仁，柴田直哉）お詫びと訂正本誌57巻2号掲載の談話室「『斜方晶系』をやめて『直方晶系』を使おう」（Vol.57 No.2 pp.131-133）について，図1と図2に誤りがございました．お詫びして訂正いたします．（誤）（正）b－ao－baac－bo－ao－baOcab図1図2図1図2258日本結晶学会誌第59巻第5号（2017）